发明名称 一种具有内禀铁磁性ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法
摘要 本发明属于半导体薄膜材料技术领域,涉及一种高质量、低电阻率、具有内禀铁磁性的稀土金属离子掺杂ZnO稀磁半导体薄膜及其制备方法。本发明的薄膜,其化学成份符合化学通式Zn1-x-yErxAlyO,0<x≤0.03,0<y≤0.02。本发明以稀土金属离子Er和Al施主掺杂的方式,以陶瓷靶材为基础,采用ICP-PVD技术,制得具有内禀铁磁性的ZnO基稀磁半导体薄膜。本发明ICP-PVD技术可使Er均匀掺杂到ZnO晶格中,同时Al的掺杂可以显著提高ZnO薄膜中的载流子浓度,有效地调节Er2+离子间的铁磁交换,所得薄膜具有室温以上的内禀铁磁性和反常霍尔效应,可广泛应用于自旋电子器件中。
申请公布号 CN102270737A 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN201110031688.6 申请日期 2011.01.28
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 刘学超;陈之战;杨建华;施尔畏
分类号 H01L43/10(2006.01)I;H01L43/12(2006.01)I;H01L21/203(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I 主分类号 H01L43/10(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 许亦琳;余明伟
主权项 一种具有内禀铁磁性ZnO基稀磁半导体薄膜,其化学成份符合化学通式Zn1‑x‑yErxAlyO,其中0<x≤0.03,0<y≤0.02。
地址 200050 上海市长宁区定西路1295号