发明名称 试样分析仪及试样分析方法
摘要 本发明提供一种能够自动稳定地使激光二极管多模发振的试样分析仪,包括:向试样照射激光的LD激光二极管501d、检测LD501d发光量的PD光电二极管501e、根据PD501e检出的发光量向LD501d输出直流电以使LD501d发光量保持一定量的APC电路501b、在APC电路501b输出的直流电上叠加高频成份的高频发振电路501f、根据APC电路501b输出的直流电大小控制高频发振电路501f输出的高频振幅,以使LD501d多模发振的高频自动调节电路501c。本发明还提供一种通过用叠加了高频成份的电流从激光二极管向试样照射激光对所述试样进行分析的试样分析方法。
申请公布号 CN101382485B 申请公布日期 2011.12.07
申请号 CN200810210896.0 申请日期 2008.08.25
申请人 希森美康株式会社 发明人 植野邦男
分类号 G01N21/01(2006.01)I;G01N33/48(2006.01)I;G01N15/14(2006.01)I;H01S5/06(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 北京市安伦律师事务所 11339 代理人 刘良勇
主权项 一种试样分析仪,包括:激光二极管,用于向试样照射激光;光量检测器,用于检测所述激光二极管的发光量;直流电输出部分,用于根据所述光量检测器检出的发光量输出供给所述激光二极管直流电,以使所述激光二极管保持一定发光量;高频叠加部分,用于在所述直流电输出部分输出的直流电上叠加高频成份;及高频控制部分,用于根据所述直流电输出部分输出的直流电电流值控制所述高频叠加部分输出的高频振幅,以使所述激光二极管多模发振,其中,所述高频控制部分先进行初始驱动控制,即不叠加高频成份让所述直流电输出部分输出直流电,然后进行多模发振控制,在所述直流电输出部分输出的直流电上叠加高频成份,使所述激光二极管多模发振,所述高频控制部分在所述初始驱动控制期间,根据所述直流电输出部分输出的直流电的电流值决定基准电流值,在所述多模发振控制期间控制所述高频叠加部分,使所述直流电输出部分输出的直流电的电流值接近所述基准电流值,所述高频控制部分包括用于保持所述直流电输出部分在所述初始驱动控制期间输出的直流电的电流值信息的第一电路、用于根据所述第一电路保持的所述电流值信息决定所述基准电流值的第二电路、用于比较所述直流电输出部分在所述多模发振控制期间输出的直流电的电流值信息与所述基准电流值的比较器;根据所述比较器的比较结果,向所述高频叠加部分施加偏压电压。
地址 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号