发明名称 | 高热流密度条件下阵列射流、沸腾冷却耦合换热方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种高热流密度条件下阵列射流、沸腾冷却耦合换热方法,将单相阵列射流冲击冷却和沸腾换热结合,利用冷却液的蒸发潜热移除电子器件的热量,即选取沸点在-20℃-30℃的冷却液,通过控制工质压力在-0.5bar-10bar,获得所需范围内的沸点温度,将冷却液泵送至阵列射流冲击装置,通过射流孔射流在换热表面上,同时控制冷却液的温度和压力,使冷却液在射流换热后部分发生相变,利用冷却液的汽化潜热散热,换热后残余液体以及汽化的气体在压差作用下排除,完成整个阵列射流、沸腾冷却耦合换热过程。本发明实现高热流密度条件下的电子器件的散热,从而满足高热流密度条件下电子器件的散热需求,有效控制电子器件的温度,满足电子器件的工作温度需求。 | ||
申请公布号 | CN102271485A | 申请公布日期 | 2011.12.07 |
申请号 | CN201110122114.X | 申请日期 | 2011.05.12 |
申请人 | 南京理工大学 | 发明人 | 宣益民;李强;铁鹏 |
分类号 | H05K7/20(2006.01)I | 主分类号 | H05K7/20(2006.01)I |
代理机构 | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人 | 唐代盛 |
主权项 | 一种高热流密度条件下阵列射流、沸腾冷却耦合换热方法,其特征在于将单相阵列射流冲击冷却和沸腾换热结合,利用冷却液的蒸发潜热移除电子器件的热量,即选取沸点在‑20℃‑30℃的冷却液,通过控制工质压力在‑0.5bar‑10bar,获得所需范围内的沸点温度,将冷却液泵送至阵列射流冲击装置,通过射流孔射流在换热表面上,同时控制冷却液的温度和压力,使冷却液在射流换热后部分发生相变,利用冷却液的汽化潜热散热,换热后残余液体以及汽化的气体在压差作用下排除,完成整个阵列射流、沸腾冷却耦合换热过程。 | ||
地址 | 210094 江苏省南京市孝陵卫200号 |