发明名称 |
具有升温气体注入的化学气相沉积 |
摘要 |
一种化学气相沉积的反应器和方法。引导例如包括第III族金属源以及第V族金属源的反应气体,至旋转圆盘状反应器的反应室(10)内,并向下地引导该气体至晶片载体(32)以及基片(40)以沉积例如第III-V族半导体化合物,该晶片载体以及基片保持升高的基片温度,通常大于约400℃,并通常为700-1100℃。气体在进气温度理想地高于约75℃,并最优选为100-350℃时引入反应室。反应室壁的温度处于接近进气温度。使用升高的进气温度可以实现晶片载体的较低转速,更高的操作压力,更低的流速或它们的组合。 |
申请公布号 |
CN102272892A |
申请公布日期 |
2011.12.07 |
申请号 |
CN200980153973.6 |
申请日期 |
2009.11.06 |
申请人 |
威科仪器有限公司 |
发明人 |
艾里克斯·古拉里;米海尔·贝洛索夫;博扬·米特洛维奇 |
分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
曾旻辉;何冲 |
主权项 |
一种化学气相沉积的方法,其特征在于,包括:(a)将一个或多个基片支撑在反应室内的载体上,使得基片的表面在反应室内面朝上方,同时使载体绕着垂直轴旋转,并保持基片处于400℃或更高的温度;(b)将包括第III族金属源以及第V族元素源的气体从位于基片上方的进气口元件处导入反应室内,使得气体向下流向基片,并在基片表面上背离垂直轴向外流动,且在基片上反应生成第III‑V族化合物,反应气体在导入反应室时处于约75℃以上的进气温度。 |
地址 |
美国纽约州 |