发明名称 |
对准系统 |
摘要 |
一种磁性的孔定位器装置,包括包含GMR传感器工具的试验场检测器,且可以包括包含第一磁场检测器和第二磁场检测器(可以是GMR)的试验场检测器,所述第一磁场检测器和第二磁场检测器相对于孔定位位置被布置,所述检测器具有磁轴,所述磁轴中的每个被布置为横向于从孔定位位置至检测器的半径。该装置可以包括地磁补偿或环境磁场补偿。 |
申请公布号 |
CN102272556A |
申请公布日期 |
2011.12.07 |
申请号 |
CN200980153739.3 |
申请日期 |
2009.11.09 |
申请人 |
先进分析及集成有限公司 |
发明人 |
J·J·科里 |
分类号 |
G01D5/14(2006.01)I;B21J15/44(2006.01)I;B23B49/00(2006.01)I;B23Q17/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01D5/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
代理人 |
周靖;郑霞 |
主权项 |
一种对准系统,包括试验场发生器和传感器装置,所述试验场发生器产生与环境磁场相比较小的磁试验场,所述传感器装置适于检测具有环境场补偿的所述磁试验场。 |
地址 |
英国曼彻斯特 |