| 摘要 |
<p>L'invention concerne la caractérisation de la composition d'une couche déposée d'un alliage de type I-(III',III")-(VI',VI") tel que par exemple Cu(In Ga )(S Se ) . Par éclairement de la couche d'alliage par un rayonnement incident de longueur d'onde proche d'une longueur d'onde correspondant à la largeur de bande interdite de l'alliage, on génère un phénomène de résonance Raman. Le procédé comporte alors les étapes : - mesure de l'intensité d'un pic de diffusion Raman caractéristique de l'alliage de la couche, et - détermination en fonction de ladite mesure d'intensité, d'une proportion de l'espèce III' par rapport à l'espèce III", et/ou de l'espèce VI' par rapport à l'espèce VI", dans l'alliage de la couche mince.</p> |
