发明名称 5T单埠静态随机存取记忆体
摘要
申请公布号 TWM417634 申请公布日期 2011.12.01
申请号 TW100200843 申请日期 2011.01.14
申请人 修平技術學院 臺中市大里區工業路11號 发明人 萧明椿;黄淳德;唐国秦;管展均
分类号 G11C14/00 主分类号 G11C14/00
代理机构 代理人
主权项 一种5T单埠静态随机存取记忆体,包括:一记忆体阵列,该记忆体阵列系由复数个记忆体区块所组成,每一记忆体区块更包括有复数个记忆体晶胞(1);以及复数个控制电路(2),每一记忆体区块设置一个控制电路(2);其中,每一记忆体晶胞(1)更包含:一第一反相器,系由一第一PMOS电晶体(P1)与一第一NMOS电晶体(M1)所组成,该第一反相器系连接在一电源供应电压(VDD)与一第一低电压节点(VL1)之间;一第二反相器,系由一第二PMOS电晶体(P2)与一第二NMOS电晶体(M2)所组成,该第二反相器系连接在该电源供应电压(VDD)与一第二低电压节点(VL2)之间;一储存节点(A),系由该第一反相器之输出端所形成;一反相储存节点(B),系由该第二反相器之输出端所形成;以及一第三NMOS电晶体(M3),系连接在该储存节点(A)与对应之一位元线(BL)之间,且闸极连接至对应之一字元线(WL);其中,该第一反相器和该第二反相器系呈交互耦合连接,亦即该第一反相器之输出端(即储存节点A)系连接至该第二反相器之输入端,而该第二反相器之输出端(即反相储存节点B)则连接至该第一反相器之输入端;其中,每一控制电路(2)更包含:一第四NMOS电晶体(M21),该第四NMOS电晶体(M21)之源极系连接至接地电压,而闸极与汲极系连接在一起,并连接至该第一低电压节点(VL1);一第五NMOS电晶体(M22),该第五NMOS电晶体(M22)之源极、闸极与汲极系分别连接至接地电压、一反相待机模式控制信号()与该第二低电压节点(VL2);一第六NMOS电晶体(M23),该第六NMOS电晶体(M23)之源极、闸极与汲极系分别连接至该第二低电压节点(VL2)、一待机模式控制信号(S)与该第一低电压节点(VL1);一第七NMOS电晶体(M24),该第七NMOS电晶体(M24)之源极连接至接地电压,汲极连接至该第一低电压节点(VL1),而闸极连接至一第八NMOS电晶体(M25)之汲极、一第九NMOS电晶体(M26)之汲极与一第十NMOS电晶体(M27)之源极;该第八NMOS电晶体(M25),该第八NMOS电晶体(M25)之源极、闸极与汲极系分别连接至接地电压、一写入致能信号(WE)与第七NMOS电晶体(M24)之闸极;该第九NMOS电晶体(M26),该第九NMOS电晶体(M26)之源极、闸极与汲极系分别连接至接地电压、一待机模式控制信号(S)与第七NMOS电晶体(M24)之闸极;该第十NMOS电晶体(M27),该第十NMOS电晶体(M27)之源极、闸极与汲极系分别连接至第七NMOS电晶体(M24)之闸极、一反相写入致能信号()与一第十一NMOS电晶体(M28)之汲极;以及该第十一NMOS电晶体(M28),该第十一NMOS电晶体(M28)之源极、闸极与汲极系分别连接至该第十NMOS电晶体(M27)之汲极、该反相待机模式控制信号()与该电源供应电压(VDD);其中,该反相待机模式控制信号()系由该待机模式控制信号(S)经一第三反相器而获得,而该反相写入致能信号()系由写入致能信号(WE)经一第四反相器而获得。
地址 台中市大里区工业路11号