发明名称 Optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage sowie mikrolithographisches Belichtungsverfahren
摘要 Die Erfindung betrifft ein optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage, sowie ein mikrolithographisches Belichtungsverfahren. Ein optisches System für eine mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage umfasst in einer Ausführungsform wenigstens eine Spiegelanordnung (200, 720, 730, 920), welche eine Mehrzahl von Spiegelelementen (200a, 200b, 200c, ..., 721, 722, 723, ..., 731, 732, 733, ...) aufweist, die zur Veränderung einer Winkelverteilung des von der Spiegelanordnung (200, 720, 730, 920) reflektierten Lichtes unabhängig voneinander verstellbar sind, und wenigstens einen Manipulator (300, 720, 910), welcher in Lichtausbreitungsrichtung nach dieser Spiegelanordnung (200, 720, 730, 920) angeordnet ist und eine rasterförmige Anordnung von Manipulatorelementen (301, 302, ..., 600, 721, 722, 723, ...) derart aufweist, dass im Betrieb des optischen Systems auf den Manipulator (300, 600, 720, 910) auftreffendes Licht in Abhängigkeit vom Ort des Auftreffens in seinem Polarisationszustand und/oder in seiner Intensität unterschiedlich beeinflusst wird.
申请公布号 DE102010029339(A1) 申请公布日期 2011.12.01
申请号 DE201010029339 申请日期 2010.05.27
申请人 CARL ZEISS SMT GMBH 发明人 SAENGER, INGO;SCHARNWEBER, RALF;DITTMANN, OLAF;GRUNER, TORALF;WEIS, GUNDULA;MAJOR, ANDRAS G.;VOGT, MARTIN;DEGUENTHER, MARKUS;WANGLER, JOHANNES;KORB, THOMAS;WALDIS, SEVERIN
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
地址