发明名称 位置调整方法、位置调整量计算装置以及投影仪
摘要 本发明提供一种光调制装置的位置调整方法、位置调整量计算装置以及投影仪,光调制装置的位置调整方法具有以下步骤:第1摄影步骤,利用摄像装置拍摄采用第1光调制装置的调制光显示的第1特征点来获得第1摄影数据;第2摄影步骤,利用上述摄像装置拍摄采用第2光调制装置的调制光显示的第2特征点来获得第2摄影数据;调整量计算步骤,根据上述第1摄影数据以及上述第2摄影数据来计算调整量;以及位置调整步骤,根据在上述调整量计算步骤中计算出的上述调整量,调整上述第1光调制装置以及上述第2光调制装置中的至少一方的位置。
申请公布号 CN102263919A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201110135049.4 申请日期 2011.05.24
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 吉泽孝一
分类号 H04N5/74(2006.01)I;H04N9/31(2006.01)I;G03B21/00(2006.01)I 主分类号 H04N5/74(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉;马建军
主权项 一种光调制装置的位置调整方法,其特征在于,该光调制装置的位置调整方法具有以下步骤:第1显示步骤,采用第1光调制装置的调制光在投射面上显示包含至少4个第1特征点的第1测试图案;第1摄影步骤,利用摄像装置拍摄在所述第1显示步骤中显示的所述第1特征点,获得第1摄影数据;第2显示步骤,采用第2光调制装置的调制光在所述投射面上显示包含至少1个第2特征点的第2测试图案;第2摄影步骤,利用所述摄像装置拍摄在所述第2显示步骤中显示的所述第2特征点,获得第2摄影数据;对应关系计算步骤,根据所述第1摄影数据,计算在所述第1光调制装置中定义的第1坐标系下与所述第1特征点对应的位置和在所述摄像装置中定义的摄像坐标系下与所述第1特征点对应的位置之间的对应关系;调整量计算步骤,根据所述对应关系以及所述第2摄影数据,计算与偏移量对应的调整量,该偏移量是所述第1坐标系下与所述第2特征点对应的位置和在所述第2光调制装置中定义的第2坐标系下与所述第2特征点对应的位置之间的偏移量;以及位置调整步骤,根据在所述调整量计算步骤中计算出的所述调整量,调整所述第1光调制装置以及所述第2光调制装置中的至少一方的位置。
地址 日本东京都