发明名称 |
多晶硅的清洗方法和清洗装置,以及多晶硅的制造方法 |
摘要 |
多晶硅的清洗方法,其是具有利用酸液的酸洗工序、和在该酸洗工序后用纯水清洗的水洗工序的多晶硅的清洗方法,在该水洗工序中,将上述多晶硅浸渍在贮存了纯水的水洗槽中,更换上述水洗槽内的纯水至少1次以上,以除去上述多晶硅的表面残留的上述酸液,同时测量上述水洗槽中纯水的电导率(C),根据上述电导率(C)的测量值来判断上述水洗工序的结束。 |
申请公布号 |
CN102264957A |
申请公布日期 |
2011.11.30 |
申请号 |
CN200980152264.6 |
申请日期 |
2009.12.25 |
申请人 |
三菱综合材料株式会社 |
发明人 |
堺一弘;渥美彻弥;宫田幸和 |
分类号 |
C30B29/06(2006.01)I;B08B3/08(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/06(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
庞立志;郭文洁 |
主权项 |
多晶硅的清洗方法,其是具有利用酸液的酸洗工序、和在该酸洗工序后用纯水清洗的水洗工序的多晶硅的清洗方法,其中,在该水洗工序中,将上述多晶硅浸渍在贮存了纯水的水洗槽中,更换上述水洗槽内的纯水至少1次以上,以除去上述多晶硅的表面残留的上述酸液,同时更换上述纯水并将上述多晶硅在纯水中以浸渍状态静置,然后经过至少2小时后测量上述水洗槽中纯水的电导率C,在上述电导率C变为2μS/cm以下后结束上述水洗工序。 |
地址 |
日本东京都 |