发明名称 多晶硅的清洗方法和清洗装置,以及多晶硅的制造方法
摘要 多晶硅的清洗方法,其是具有利用酸液的酸洗工序、和在该酸洗工序后用纯水清洗的水洗工序的多晶硅的清洗方法,在该水洗工序中,将上述多晶硅浸渍在贮存了纯水的水洗槽中,更换上述水洗槽内的纯水至少1次以上,以除去上述多晶硅的表面残留的上述酸液,同时测量上述水洗槽中纯水的电导率(C),根据上述电导率(C)的测量值来判断上述水洗工序的结束。
申请公布号 CN102264957A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN200980152264.6 申请日期 2009.12.25
申请人 三菱综合材料株式会社 发明人 堺一弘;渥美彻弥;宫田幸和
分类号 C30B29/06(2006.01)I;B08B3/08(2006.01)I 主分类号 C30B29/06(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 庞立志;郭文洁
主权项 多晶硅的清洗方法,其是具有利用酸液的酸洗工序、和在该酸洗工序后用纯水清洗的水洗工序的多晶硅的清洗方法,其中,在该水洗工序中,将上述多晶硅浸渍在贮存了纯水的水洗槽中,更换上述水洗槽内的纯水至少1次以上,以除去上述多晶硅的表面残留的上述酸液,同时更换上述纯水并将上述多晶硅在纯水中以浸渍状态静置,然后经过至少2小时后测量上述水洗槽中纯水的电导率C,在上述电导率C变为2μS/cm以下后结束上述水洗工序。
地址 日本东京都