发明名称 |
平面显示器检测系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种平面显示器检测系统,用以对一平面显示器进行缺陷检测,包括一控制装置及一检测设备,控制装置控制检测设备对平面显示器进行检测,其中,检测设备包括:一电源供应器,以对平面显示器供电进行操作;一红外线温度感测装置,以在平面显示器通电后,量测平面显示器的表面温度,并输出一表面温度影像,通过观察表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线,以判别是否有缺陷存在;一光学检测装置,在确定缺陷所在的区域后,直接进行扫描,并输出一光学影像,以进一步得知缺陷类型及位置。 |
申请公布号 |
CN202057742U |
申请公布日期 |
2011.11.30 |
申请号 |
CN201120085663.X |
申请日期 |
2011.03.28 |
申请人 |
宏濑科技股份有限公司 |
发明人 |
郑昆贤;杨凯峰;吴文宾 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I;G01J5/10(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
一种平面显示器检测系统,其特征在于,用以对一平面显示器进行缺陷检测,包括一控制装置及一检测设备,所述控制装置控制所述检测设备,对所述平面显示器进行检测,其中,所述检测设备包括:一电源供应器,以对所述平面显示器供电进行操作;一红外线温度感测装置,以量测所述平面显示器的表面温度,并输出一表面温度影像,以通过观察所述表面温度影像是否有温度异常的亮点或亮线来判定是否有缺陷存在,其中,所述亮点或亮线所在之处,即为缺陷存在之处;及一光学检测装置,当所述表面温度影像有亮点或亮线存在时,所述光学检测装置直接对所述亮点或亮线存在之处进行扫描,并输出一光学影像,以进一步得知缺陷类型及位置。 |
地址 |
中国台湾台北县 |