发明名称 一种塑封功率二极管及其制造工艺
摘要 本发明公开了一种塑封功率二极管及其制造工艺,涉及半导体分立器件技术领域。其制造工艺不采用现有技术中用异丙醇、无水乙醇等有机溶剂的清洗和脱水工艺,省掉有机溶剂清洗后的水洗及再脱水工艺;采用将连接导线的芯片放入加热的烘箱中烘焙4-10小时,烘箱温度200-250℃,烘箱中通氢氮混合气体或者洁净的空气;将涂覆液体环氧树脂或液体硅橡胶的芯片放入150±10℃烘箱中胶固化10-60分钟。本发明与现有技术相比产品具有优良的高温特性、一致性和可靠性。
申请公布号 CN102263140A 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201110228142.X 申请日期 2011.08.10
申请人 山东沂光电子股份有限公司 发明人 张录周;赵为涛;武海清;于秀娟
分类号 H01L29/861(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L29/861(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种塑封功率二极管,其特征在于:其由以下工艺步骤制的:①工艺焊接:将硅芯片、焊片和无氧铜导线组装到焊接舟中,经焊接炉连接二极管的正负极;②酸腐蚀:将连接好导线的硅芯片插入酸洗盘中,在含有硝酸、氢氟酸、冰醋酸、硫酸的混合酸作用下,腐蚀掉芯片的划片刀痕、氧化层,使芯片台面表面光滑洁净,裸露在芯片台面表面的PN结得到清洁处理,腐蚀液成分(体积比):HNO3:HF:CH3COOH:H2SO4=9:9:12:4;③钝化:经含磷酸、双氧水、纯水的混合液,钝化液的成分(体积比):H2O2:H3PO4:纯水=1:1:3,使芯片台面表面形成一层微薄的磷硅玻璃层或SiO2层,以减少有害杂质的污染,保护裸露在芯片台面表面的PN结;④络合:经含双氧水、氨水、纯水的混合液,络合液的成分(体积比):H2O2:NH3H2O:纯水=1:10:40,使硅芯片台面吸附的铜等有害金属杂质形成可溶入水的络合物,使硅芯片表面上的金属杂质得到解吸;⑤超声纯水清洗:在超声的纯水中,用纯水冲洗硅芯片台面,将金属杂质去除;⑥梳料:将耐酸塑料盘中的半成品放到耐高温的铝制品的工装上,以便后工序的高温处理;⑦干洗:将连接导线的芯片放入加热的烘箱中烘焙4 10小时,烘箱温度200 250℃,烘箱中通氢氮混合气体或者洁净的空气;⑧涂覆液体环氧树脂或液体硅橡胶;⑨胶固化:放入150±10℃烘箱中固化10 60分钟;⑩注塑封装:上注塑机注塑,形成二极管的非空腔塑封体外形,即获得塑封功率二极管成品。
地址 276017 山东省临沂市高新技术产业开发区罗六路113号