发明名称 基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法
摘要 基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法,本发明涉及结构光颜色信息重建过程中的一种颜色校正方法。其步骤是:(a)利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据,依次将每个采样点作为中心采样点,根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面,在其上过中心采样点作切面。(b)以切面表征表面局部几何特性,针对切面作入射光强分析和反射光强分析,计算出中心采样点的颜色校正系数。(c)利用各中心采样点的颜色校正系数校正颜色数据。本方法在结构光系统获取三维数据和颜色数据的基础上,直接根据三维数据分析表面几何特性及其对颜色数据的影响,修正该影响,得到真实颜色信息。本方法在工业和民用领域有着广阔的应用前景。
申请公布号 CN101813522B 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN200910072496.2 申请日期 2009.07.13
申请人 哈尔滨理工大学 发明人 吴海滨;于晓洋;王洋;张健
分类号 G01J3/46(2006.01)I 主分类号 G01J3/46(2006.01)I
代理机构 哈尔滨东方专利事务所 23118 代理人 陈晓光
主权项 1.一种基于表面几何特性的结构光重建颜色校正方法,其特征是:该方法包括步骤:<b>(1) 利用结构光系统获取被测表面采样点的三维数据和颜色数据,依次将每个采样点作为中心采样点,根据中心采样点和其邻域内多个采样点的三维数据拟合空间曲面,在空间曲面上过中心采样点作切面;</b><b>(2) 以切面表征被测表面局部几何特性,针对切面作入射光强分析和反射光强分析,进而计算出中心采样点的颜色校正系数;所述的入射光强分析为:投影仪投射的光能总量一定,则单位面积上的入射光强与总投射面积成反比,总投射面积与入射距离和入射角有关,在入射角确定的前提下,总投射面积与入射距离的平方成正比,因此入射光强与入射距离的平方成反比;在入射距离确定的前提下,总投射面积与入射角正弦值的平方成反比,因此入射光强与入射角正弦值的平方成正比,据此可计算入射光强校正系数<i>A</i>;所述的反射光强分析为:被测表面反射至摄像机的反射光强符合朗伯(Lambert)模型,据此可计算反射光强校正系数<i>B</i>;</b><b>所述的入射距离为中心采样点与投影仪镜头中心之间的距离;入射角为中心采样点和投影仪镜头中心连线与切面的夹角;</b><b>(3) 利用各中心采样点的颜色校正系数校正其颜色数据,中心采样点的颜色校正系数<i>C</i>由入射光强校正系数<i>A</i>和反射光强校正系数<i>B</i>相乘得出:</b><img file="2009100724962100001DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="252" he="62" /><b>式中<i>L</i></b><sub><b>1</b></sub><b>和<i>L</i></b><sub><b>2</b></sub><b>表示两个不同几何特性的切面1和切面2的入射距离;</b><img file="887524DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="17" he="24" />和<img file="DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="20" he="24" />表示两个不同几何特性的切面1和切面2的入射角;来自于切面1和切面2的反射光线的反射角分别为<img file="866981DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="18" he="24" />和<img file="DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="20" he="24" /><b>;</b><b>中心采样点的颜色数据<i>R</i>, <i>G</i>, <i>B</i>值与相应的颜色校正系数相乘,再线性拉伸到[0, 1]之间,得到校正后的颜色数据。</b>
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