发明名称 |
X射线检测装置 |
摘要 |
一种应用于异物检测的X射线检测装置,包括:输送线,用于输送被检物品;双光源X射线扫描设备,用于生成对被检物品进行扫描的两条X射线,所述两条X射线之间成一射线夹角;信息处理设备,与所述双光源X射线扫描设备连接,用于对所述双光源X射线扫描设备扫描得到的信息进行处理以形成图像的信息处理设备。本发明基于双光源的X射线检测装置,可以生成双X射线光源,以两个方向对被检物品进行投影,形成具有互补的两个X射线检测图像,从而解决了单光源检测装置固有的盲区问题,提高异物检测的正确率。 |
申请公布号 |
CN102253064A |
申请公布日期 |
2011.11.23 |
申请号 |
CN201110078148.3 |
申请日期 |
2011.03.30 |
申请人 |
上海高晶金属探测设备有限公司 |
发明人 |
陆志文;彭宁嵩;吴家荣;姜鑫东 |
分类号 |
G01N23/18(2006.01)I;G01N23/087(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/18(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
李仪萍 |
主权项 |
一种应用于异物检测的X射线检测装置,其特征在于,包括:输送线,用于输送被检物品;双光源X射线扫描设备,用于生成对被检物品进行扫描的两条X射线,所述两条X射线之间成一射线夹角;信息处理设备,与所述双光源X射线扫描设备连接,用于对所述双光源X射线扫描设备扫描得到的信息进行处理以形成图像的信息处理设备。 |
地址 |
200433 上海市杨浦区翔殷路81号3幢2122室 |