发明名称 X射线衰减校正方法、CT装置、图像产生装置及方法
摘要 本发明提供一种用于校正在对象的X射线吸收率发生变化的边界处X射线束的衰减的X射线衰减校正方法、图像产生装置、X射线CT装置以及图像产生方法。边界信息包括X射线吸收率发生变化的边界位置和从对象的投影信息中提取的变化的幅度,然后边界信息被用来把散射X射线量乘以与在边界位置处变化的幅度对应的量以校正在边界位置处X射线的衰减。在边界位置处X射线的衰减可以连同投影信息的散射X射线的校正一起被校正,从而允许减轻在X射线断层扫描图像中显现的伪影。
申请公布号 CN101040781B 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN200610130919.8 申请日期 2006.12.21
申请人 GE医疗系统环球技术有限公司 发明人 贯井正健
分类号 A61B6/00(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 李亚非;魏军
主权项 一种X射线衰减校正方法,包括以下步骤:通过使用对象的X射线投影信息或者由所述投影信息的图像重建所产生的X射线断层扫描图像信息来提取边界信息(S301),所述边界信息包含X射线吸收率发生变化的边界位置的边界位置信息和指示所述变化的幅度的幅度信息;以及通过对每个通道的散射X射线的量乘以与边界信息中在边界位置处的变化的幅度相应的量,并且从投影信息中减去每个通道的散射X射线的量乘以与在边界位置处的变化的幅度相应的量所得的结果,校正在所述投影信息或所述X射线断层扫描图像信息中包含的所述边界位置的X射线衰减(S303),以产生校正的投影信息。
地址 美国威斯康星州