发明名称 LCD检查用探针组件互换连接器
摘要 本发明防止所有Probe Unit(Needle,Blade,Film)的Burnt,在FPC及PCB Gender贴着的电阻元件、Varistor、TVS Diode的使用进行Pane1检查的时候,按Burnt引出的Pane1与Probe Unit接触部的损伤防止。FPC及PCB Gender能替换GATE信号与DATA信号同时认可位置,这因解决Probe Unit互换的问题,而提高LDC检验特性的效率。
申请公布号 CN102253504A 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN201010173799.6 申请日期 2010.05.17
申请人 卢肯技术株式会社 发明人 安玧泰
分类号 G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/13(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 楼高潮
主权项 一种FPC及PCB Gender,其特征在于:适用于所有类型的Probe Unit(Needle,Blade,Film),适用于GATE信号与DATA信号同时认可的任何信号部,与安装于Probe Unit(200)的FPC(300)与PCB(700)上的Connector(600)连接,以认可信号,插入有控制跨入电流量的电阻元件,插入有上述电阻元件与防止过电流及过电压的Varistor或者TVSDiode。
地址 韩国京畿道利川市