发明名称 | LCD检查用探针组件互换连接器 | ||
摘要 | 本发明防止所有Probe Unit(Needle,Blade,Film)的Burnt,在FPC及PCB Gender贴着的电阻元件、Varistor、TVS Diode的使用进行Pane1检查的时候,按Burnt引出的Pane1与Probe Unit接触部的损伤防止。FPC及PCB Gender能替换GATE信号与DATA信号同时认可位置,这因解决Probe Unit互换的问题,而提高LDC检验特性的效率。 | ||
申请公布号 | CN102253504A | 申请公布日期 | 2011.11.23 |
申请号 | CN201010173799.6 | 申请日期 | 2010.05.17 |
申请人 | 卢肯技术株式会社 | 发明人 | 安玧泰 |
分类号 | G02F1/13(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人 | 楼高潮 |
主权项 | 一种FPC及PCB Gender,其特征在于:适用于所有类型的Probe Unit(Needle,Blade,Film),适用于GATE信号与DATA信号同时认可的任何信号部,与安装于Probe Unit(200)的FPC(300)与PCB(700)上的Connector(600)连接,以认可信号,插入有控制跨入电流量的电阻元件,插入有上述电阻元件与防止过电流及过电压的Varistor或者TVSDiode。 | ||
地址 | 韩国京畿道利川市 |