发明名称 |
测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统 |
摘要 |
一种测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统,包括:一HeNe激光器;一格兰泰勒棱镜将HeNe激光器出射的激光变成线偏振光;一光弹调制器;一显微物镜用于将入射激光聚焦在样品台面上;一变温液氮杜瓦样品座包括一温度控制仪,一紫铜冷指,待测量样品固定在紫铜冷指顶端;一数字电压电流源表其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一取样电阻用于将待测量样品的交流电压信号提取出来;一锁相放大器其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一半反半透镜组位于主光路上;一白光光源用以观察待测量样品台面上的位置;一摄像机和显示器用来显示输出待测量样品台面成像以及激光光斑位置;一钕铁硼环形永磁体同轴套在变温液氮杜瓦样品座的紫铜冷指外部。 |
申请公布号 |
CN102253323A |
申请公布日期 |
2011.11.23 |
申请号 |
CN201110159296.8 |
申请日期 |
2011.06.14 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
李韫慧;章昊;肖文波;吴昊;谭平恒 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I;G01R19/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
一种测量电子自旋相关输运的变温显微测量系统,该系统包括:一HeNe激光器,用来激发样品光生载流子;一格兰泰勒棱镜,位于HeNe激光器的主光路上,将HeNe激光器出射的激光变成线偏振光;一光弹调制器,将线偏振光调制为按50KHz周期调制的左右旋圆偏振光;一显微物镜,该显微物镜位于主光路上,用于将入射激光聚焦在样品台面上;一变温液氮杜瓦样品座,该变温液氮杜瓦样品座位于主光路上,该变温液氮杜瓦样品座包括一温度控制仪,一紫铜冷指,待测量样品固定在紫铜冷指顶端;一数字电压电流源表,与变温液氮杜瓦样品座内的待测量样品连接,用于施加直流偏置电压,并同时读取样品回路的直流电流大小,其控制端通过GPIB线与一计算机连接;一取样电阻,与变温液氮杜瓦样品座内的待测量样品回路连接,用于将待测量样品的交流电压信号提取出来;一锁相放大器,该锁相放大器的信号输入端与取样电阻连接,用来测量样品的偏振相关交流电压信号,其触发输入端与光弹调制器连接,该锁相放大器的控制端通过GPIB线与一计算机连接;一半反半透镜组,该半反半透镜组位于主光路上;一白光光源,使出射的白光通过半反半透镜组照射在变温液氮杜瓦样品座内的样品台面上,用以观察和调节HeNe激光器光斑打在待测量样品台面上的位置;一摄像机和显示器,用来显示输出待测量样品台面成像以及激光光斑位置;一钕铁硼环形永磁体,开有一通孔,同轴套在变温液氮杜瓦样品座的紫铜冷指外部;该钕铁硼环形永磁体为水平移动,用于对待测量样品提供可变的外加磁场强度。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |