| 发明名称 | 基于地震纹分析的储层检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种基于地震纹分析的储层检测方法，包括以下步骤：针对目标层位确定基于声学系数的地震纹参数，所述声学系数包括：倒谱系数、梅尔倒谱系数、线性预测倒谱系数中的至少一种；通过所述地震纹参数确定所述目标层位的储层特征。通过本发明提供的储层检测方法，借助源自地震数据的地震纹参数，能够由此更简单高效地确定储层特征，例如岩性或烃类性质。 | ||
| 申请公布号 | CN102253414A | 申请公布日期 | 2011.11.23 |
| 申请号 | CN201110165615.6 | 申请日期 | 2011.06.20 |
| 申请人 | 成都理工大学 | 发明人 | 曹俊兴;田仁飞 |
| 分类号 | G01V1/30(2006.01)I | 主分类号 | G01V1/30(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人 | 李世喆 |
| 主权项 | 一种基于地震纹分析的储层检测方法，其特征在于，包括以下步骤：标定目标层位；针对目标层位确定基于声学系数的地震纹参数，所述声学系数包括：倒谱系数、线性预测倒谱系数、梅尔倒谱系数中的至少一种；通过所述地震纹参数确定所述目标层位的储层特征。 | ||
| 地址 | 610000 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号 | ||