发明名称 用于测定AlGaN/GaN超晶格电阻率的GaN基激光器及测试方法
摘要 用于测定GaN基半导体激光器中AlGaN/GaN超晶格电阻率的激光器结构和测试方法属于半导体激光器领域。本发明提出的用于测定AlGaN/GaN超晶格光限制层电阻率的激光器为两种具有不同厚度的n型或p型AlGaN/GaN超晶格光限制层的激光器,通过测量激光器的I-V特性曲线,确定每种激光器的串联电阻,而具有不同厚度的AlGaN/GaN超晶格光限制层的激光器的串联电阻之差即为改变的那部分厚度的AlGaN/GaN超晶格的电阻,由此可求出AlGaN/GaN超晶格光限制层的电阻率。利用该结构的激光器可分别测定GaN基半导体激光器中n型和p型AlGaN/GaN超晶格光限制层的电阻率,为GaN基半导体激光器的结构设计与生长制作提供参考数据。
申请公布号 CN102255244A 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN201110137586.2 申请日期 2011.05.25
申请人 北京化工大学 发明人 李德尧;许海军;吴超;廛宇飞;朱建军;赵德刚;张书明;杨辉
分类号 H01S5/343(2006.01)I;H01S5/22(2006.01)I;H01S5/042(2006.01)I;H01S5/00(2006.01)I 主分类号 H01S5/343(2006.01)I
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人 刘萍
主权项 用于测定AlGaN/GaN超晶格电阻率的GaN基激光器,其特征在于:用于测定p型AlGaN/GaN超晶格电阻率的GaN基激光器为两种具有不同厚度的AlGaN/GaN超晶格光限制层的GaN基半导体激光器;其中的第一种GaN基半导体激光器自下向上依次包括:衬底(10);欧姆接触层(11);下限制层(12),该下限制层(12)为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为1.10微米;下波导层(13);有源层(14);电子阻挡层(15);上波导层(16);上限制层(17),该上限制层为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.20~0.30微米;覆盖层(18);绝缘层(21),该绝缘层(21)制作在刻蚀后露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)的侧面;露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)形成左右对称的条形;n型欧姆电极(22),该n型欧姆电极制作在经刻蚀后露出的欧姆接触层(11)的上表面且在条形的两侧均制作有n型欧姆电极;p型欧姆电极(23),该p型欧姆电极制作在覆盖层(18)的上表面;其中的第二种GaN基半导体激光器自下向上依次包括:衬底(10);欧姆接触层(11);下限制层(12),该下限制层(12)为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为1.10微米;下波导层(13);有源层(14);电子阻挡层(15);上波导层(16);上限制层(17),该上限制层为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.70~0.80微米;覆盖层(18);绝缘层(21),该绝缘层(21)制作在刻蚀后露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)的侧面;露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)形成左右对称的条形;n型欧姆电极(22),该n型欧姆电极制作在经刻蚀后露出的欧姆接触层(11)的上表面且在条形的两侧均制作有n型欧姆电极;p型欧姆电极(23),该p型欧姆电极制作在覆盖层(18)的上表面;用于测定n型AlGaN/GaN超晶格电阻率的GaN基激光器为两种具有不同厚度的n型AlGaN/GaN超晶格光限制层的GaN基半导体激光器;其中的第三种GaN基半导体激光器自下向上依次包括:衬底(10);欧姆接触层(11);下限制层(12),该下限制层(12)为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.20~0.40微米;下波导层(13);有源层(14);电子阻挡层(15);上波导层(16);上限制层(17),该上限制层为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.80微米;覆盖层(18);绝缘层(21),该绝缘层(21)制作在刻蚀后露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)的侧面;露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)形成左右对称的条形;n型欧姆电极(22),该n型欧姆电极制作在经刻蚀后露出的欧姆接触层(11)的上表面且在条形的两侧均制作有n型欧姆电极;p型欧姆电极(23),该p型欧姆电极制作在覆盖层(18)的上表面;其中的第四种GaN基半导体激光器自下向上依次包括:衬底(10);欧姆接触层(11);下限制层(12),该下限制层(12)为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.90~1.10微米;下波导层(13);有源层(14);电子阻挡层(15);上波导层(16);上限制层(17),该上限制层为多个周期的AlGaN/GaN超晶格,其总厚度为0.80微米;覆盖层(18);绝缘层(21),该绝缘层(21)制作在刻蚀后露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)的侧面;露出的下限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、电子阻挡层(15)、上波导层(16)、上限制层(17)和覆盖层(18)形成左右对称的条形;n型欧姆电极(22),该n型欧姆电极制作在经刻蚀后露出的欧姆接触层(11)的上表面且在条形的两侧均制作有n型欧姆电极;p型欧姆电极(23),该p型欧姆电极制作在覆盖层(18)的上表面;
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