发明名称 |
一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统 |
摘要 |
本发明公开了一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统,包括一种干涉式综合孔径辐射计和真实孔径辐射计相结合的双模辐射计系统。所述干涉式综合孔径辐射计采用中心空置的环形面天线阵列,所述天线阵列可以绕中心轴在天线阵面内自旋扫描。所述真实孔径辐射计采用大口径反射面天线,所述反射面天线嵌套在所述环形天线阵中心位置,并且可以实现方位向和俯仰向的2-自由度旋转扫描。本发明的优点在于:扩展了毫米波/亚毫米波辐射计系统的观测频段宽度,降低了整体系统的复杂度,提高了系统整体的空间分辨率和成像效率。 |
申请公布号 |
CN102253387A |
申请公布日期 |
2011.11.23 |
申请号 |
CN201110163880.0 |
申请日期 |
2011.06.17 |
申请人 |
中国科学院空间科学与应用研究中心 |
发明人 |
吴季;刘浩;张成;张升伟 |
分类号 |
G01S13/90(2006.01)I;G01S7/02(2006.01)I;G01S13/95(2006.01)I |
主分类号 |
G01S13/90(2006.01)I |
代理机构 |
北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 |
代理人 |
杨小蓉;高宇 |
主权项 |
一种用于毫米波和亚毫米波的双模辐射计系统,该系统包含真实孔径辐射计,所述真实孔径辐射计采用大口径反射面天线,其特征在于,所述辐射计系统还包含干涉式综合孔径辐射计,所述干涉式综合孔径辐射计采用中心空置的环形天线阵进行扫描,即所述环形天线阵围绕中心转轴在环形面内进行旋转扫描;所述中心空置处用于镶嵌所述大口径反射面天线,该大口径反射面天线实现方位向和俯仰向的2‑自由度旋转扫描。 |
地址 |
100190 北京市海淀区中关村南二条1号 |