发明名称 半导体封装结构与方法
摘要 本发明公开了一种半导体封装结构与方法,此方法是利用粘着层将多个晶片切片粘着至承载基底的第一表面上。其中,相邻的晶片切片之间具有暴露出部分粘着层的间隙。然后,在各间隙内填入封装层。再来,在各晶片切片中形成至少一个硅通孔,以暴露出配置在晶片切片的有源表面上的连接垫。之后,在各晶片切片背面形成重布线路层,以填入这些硅通孔中而与对应的连接垫电性连接。最后再进行切割工艺,以自各封装层切割至承载基底与第一表面相对的第二表面,以形成多个半导体封装结构。本发明的半导体封装方法不但可以节省工艺成本,更可以提高半导体元件的整体良率。而且,本发明的半导体封装结构可防止外界水气渗入其中而受损。
申请公布号 CN102254834A 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN201010183029.X 申请日期 2010.05.18
申请人 宏宝科技股份有限公司 发明人 张文雄
分类号 H01L21/50(2006.01)I;H01L21/58(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I;H01L23/12(2006.01)I 主分类号 H01L21/50(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邱军
主权项 一种半导体元件的封装方法,包括:提供承载基底及多个晶片切片,其中该承载基底具有彼此相对的第一表面与第二表面,各该晶片切片具有有源表面与背面,其中该有源表面与该背面相对,且该有源表面上已形成有至少一连接垫;于该承载基底的该第一表面上形成粘着层;将各该晶片切片粘着至该粘着层,其中相邻的该多个晶片切片之间具有间隙,暴露出部分的该粘着层;于各该间隙内填入封装层;于各该晶片切片中形成至少一硅通孔,以暴露出该多个连接垫;分别于各该晶片切片的该背面上形成重布线路层,以填入该多个硅通孔中而与对应的该连接垫电性连接;以及进行切割工艺,以自各该封装层切割至该承载基底的该第二表面,而形成多个半导体封装结构。
地址 中国台湾新竹市