发明名称 | 自诊断系统和测试电路判断方法 | ||
摘要 | 本发明提供了自诊断系统和测试电路判断方法,其能够判断用于诊断测试目标电路的测试电路的正常性。根据本发明的一个方面的自诊断系统包括:测试电路,其包括第一和第二诊断控制器,第一和第二诊断控制器通过使用测试目标电路中的测试模式的执行结果来判断测试目标电路的正常性;以及测试电路判断单元,其用于通过将从第一诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果与从第二诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果相比较来判断测试电路的正常性。 | ||
申请公布号 | CN102253354A | 申请公布日期 | 2011.11.23 |
申请号 | CN201110107218.3 | 申请日期 | 2011.04.22 |
申请人 | 瑞萨电子株式会社 | 发明人 | 松尾雅文 |
分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 孙志湧;穆德骏 |
主权项 | 一种自诊断系统,包括:测试电路,所述测试电路包括第一和第二诊断控制器,所述第一和第二诊断控制器通过使用测试目标电路中的测试模式的执行结果来判断所述测试目标电路的正常性;以及测试电路判断单元,所述测试电路判断单元通过将从所述第一诊断控制器输出的测试目标电路的正常性判断结果与从所述第二诊断控制器输出的所述测试目标电路的正常性判断结果相比较来判断所述测试电路的正常性。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |