| 发明名称 | LCD检查用驱动芯片接触式探针组件 | ||
| 摘要 | 本发明涉及LCD检查用驱动芯片接触式探针组件。本发明具有Tension的Tension Plat，前端是突出的Tension Plate(300)绕着附着Tap IC(500)的接触Pattern(510)能可视确认，Panel(900)与接触Pattern(910)1∶1比率对应，接触的时候更容易接触。Tension Plate(300)调整Tension引出提高LCD检验特性的效率。 | ||
| 申请公布号 | CN102253250A | 申请公布日期 | 2011.11.23 |
| 申请号 | CN201010173809.6 | 申请日期 | 2010.05.17 |
| 申请人 | 卢肯技术株式会社 | 发明人 | 安玧泰 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01)I;G09G3/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/067(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人 | 楼高潮 |
| 主权项 | 一种驱动芯片接触式探针组件，其特征在于：在Block Body(100)下部结合固定Angle Plate(200)，在Angle Plate(200)下部附着薄的Tension Plat(300)，引出Probe Block前端突出Angle Plate(200)，Angle Plate(200)与Block Body(100)下部结合Block Body Support (400)，在Block Body Support(400)下部与Tension Plat(300)下部附着TAP IC(500)，TAP IC(500)前边后端绕着附着固定突出的Tension Plat(300)，TAP IC(500)下部后端附着FPC(700)固定，为了防止TAP IC(500)分离，TAP IC Cover(600)结合Angle Plate(200)固定，Block Body(100)与Block Body Support(400)下部结合Cover(800)固定。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道利川市 | ||