发明名称 |
一种采用双缓冲层技术制备AlInN薄膜的方法 |
摘要 |
一种采用双缓冲层技术制备AlInN薄膜的方法,其工艺步骤依次如下:(1)以Si(111)为衬底,在室温、常压下将衬底清洗干净后置于氮气环境中吹干;(2)将经步骤(1)处理过的衬底放入溅射室,以Al0.25In0.75合金为靶材,在真空条件下采用磁控溅射法在衬底上生长第一缓冲层AlInN;(3)第一缓冲层AlInN生长结束后,将靶材更换为Al,在真空条件下采用磁控溅射法完成第二缓冲层AlN在第一缓冲层AlInN上的生长;(4)第二缓冲层AlN生长结束后,将靶材更换为Al0.5In0.5合金,在真空条件下采用磁控溅射法完成AlInN薄膜在第二缓冲层AlN上的生长。 |
申请公布号 |
CN102251215A |
申请公布日期 |
2011.11.23 |
申请号 |
CN201110188036.3 |
申请日期 |
2011.07.06 |
申请人 |
西南民族大学 |
发明人 |
徐明;芦伟;董成军;黄勤珍 |
分类号 |
C23C14/06(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/06(2006.01)I |
代理机构 |
成都科海专利事务有限责任公司 51202 |
代理人 |
黄幼陵;马新民 |
主权项 |
一种采用双缓冲层技术制备AlInN薄膜的方法,其特征在于工艺步骤依次如下:(1)衬底的处理以Si(111)为衬底,在室温、常压下将衬底清洗干净后置于氮气环境中吹干;(2)第一缓冲层AlInN的生长将经步骤(1)处理过的衬底放入溅射室,在真空条件下采用磁控溅射法在衬底上生长第一缓冲层AlInN,靶材为Al0.25In0.75合金,以N2为反应气体,Ar为工作气体,N2与Ar的流量比为7∶1,溅射功率50W~60W,溅射时间8分钟~15分钟,溅射过程中衬底的温度控制在250℃~350℃;(3)第二缓冲层AlN的生长第一缓冲层AlInN生长结束后,将靶材更换为Al,在真空条件下采用磁控溅射法完成第二缓冲层AlN在第一缓冲层AlInN上的生长,以N2为反应气体,Ar为工作气体,N2与Ar的流量比为9∶1,溅射功率50W~60W,溅射时间15分钟~20分钟,溅射过程中衬底的温度控制在500℃~600℃;(4)AlInN薄膜的生长第二缓冲层AlN生长结束后,将靶材更换为Al0.5In0.5合金,在真空条件下采用磁控溅射法完成AlInN薄膜在第二缓冲层AlN上的生长,以N2为反应气体,Ar为工作气体,N2与Ar的流量比为7∶1,溅射功率为80W~120W,溅射时间为35分钟~45分钟,溅射过程中衬底的温度控制在250℃~350℃。 |
地址 |
610041 四川省成都市一环路南四段16号 |