发明名称 INTEGRATED CIRCUIT WITH CONTROLLABLE TEST ACCESS TO INTERNAL ANALOG SIGNAL PADS OF AN AREA ARRAY
摘要
申请公布号 KR101086519(B1) 申请公布日期 2011.11.23
申请号 KR20040094875 申请日期 2004.11.19
申请人 发明人
分类号 H01L27/00;G01R31/28;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 H01L27/00
代理机构 代理人
主权项
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