可动态变更测试流程之测试方法,申请号TW097109042-传众专利搜索

发明名称	可动态变更测试流程之测试方法
摘要
申请公布号	TWI353033	申请公布日期	2011.11.21
申请号	TW097109042	申请日期	2008.03.14
申请人	京元電子股份有限公司新竹市公道五路2段81號	发明人	王宪旌;杨世礼
分类号	H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人	陈达仁台北市中山区长春路156号5楼
主权项	一种可动态变更测试流程的测试方法，用于测试一晶圆，该方法包含：决定该晶圆每一座标之晶粒的测试流程；以一多点测试(multi－site)执行测试；根据多点测试之各接触点的座标，执行测试流程；及产生测试结果与分类。
地址	新竹市公道五路2段81号