| 摘要 |
<p>【課題】当接部を利用してピンの接触面積を増大させ、試験の精度及び成功率を高める回路基板の試験治具のピン構造を提供する。【解決手段】回路基板の試験治具のピン構造は、当接部４２１、結合部４２２、弾性部材４２３及び接触部４２４を備える。結合部４２２は、当接部４２１の端面に設けられた柱体４２２１と、柱体４２２１の端部に設けられたストッパ４２２２と、ストッパ４２２２の一面上に設けられた延伸部４２２３とを有し、ピン４２の端部に設けられる。弾性部材４２３は、延伸部４２２３が嵌合された頂端を有する。接触部４２４は、弾性部材４２３の底端に設けられている。【選択図】図７</p> |
