发明名称 ILLUMINATION SUBSYSTEMS OF A METROLOGY SYSTEM, METROLOGY SYSTEMS, AND METHODS FOR ILLUMINATING A SPECIMEN FOR METROLOGY MEASUREMENTS
摘要 Illumination subsystems of a metrology system, metrology systems, and methods for illuminating a specimen for metrology measurements are provided.
申请公布号 US2011279819(A1) 申请公布日期 2011.11.17
申请号 US200913061936 申请日期 2009.09.29
申请人 CHUANG YUNG-HO (ALEX);LEVINSKI VLADIMIR;LIU XUEFENG;KLA-TENCOR CORPORATION 发明人 CHUANG YUNG-HO (ALEX);LEVINSKI VLADIMIR;LIU XUEFENG
分类号 G02F1/03;G01B11/00 主分类号 G02F1/03
代理机构 代理人
主权项
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