发明名称 一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器
摘要 本实用新型涉及一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器,包括壳体,壳体的一端是端盖,端盖的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔,壳体内设置有传感器电路板,电路板固定有与盲沉孔数量相同的霍尔开关,霍尔开关靠近盲沉孔;一调试笔,调试笔设置有略小于盲沉孔内径的磁粒,在使用时,利用调试笔对传感器进行非接触式调试,满足具有防爆要求的工业现场可靠使用,减少现场布线,由于非接触式,稳定可靠,使用寿命长;进一步,本设计对电路板进行灌胶处理,将电路板封装在盘状沉孔内,对传感器电路及电路元件有效可靠地进行保护,防止渗液。
申请公布号 CN202041218U 申请公布日期 2011.11.16
申请号 CN201020635370.X 申请日期 2010.12.01
申请人 新会康宇测控仪器仪表工程有限公司 发明人 李和深;朱小和
分类号 G01D5/12(2006.01)I;G01D18/00(2006.01)I;G01F23/00(2006.01)I;G01F25/00(2006.01)I 主分类号 G01D5/12(2006.01)I
代理机构 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人 谭志强
主权项 一种非接触式调试磁致伸缩位移传感器,其特征在于:包括壳体(1),壳体(1)的一端是端盖(2),端盖(2)的外表面设有至少一个内凹的盲沉孔(21),壳体(1)内设置有传感器电路板(3),所述电路板(3)固定有与盲沉孔(21)数量相同的霍尔开关(31),所述霍尔开关(31)靠近盲沉孔(21);一调试笔(4),所述调试笔(4)设置有略小于盲沉孔(21)内径的磁粒(41)。
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