发明名称 半导体封装结构以及半导体封装工艺
摘要 本发明公开一种半导体封装结构以及半导体封装工艺。该封装结构包括基板、芯片、至少一金属叠层以及至少一铜导线。基板的承载面上设有至少一第一接垫。金属叠层分别配置于第一接垫上。每一金属叠层包括镍层,位于每一第一接垫上,其中镍层的厚度大于等于1.5微米,小于等于3微米。每一金属叠层还包括钯层位于每一镍层上,以及金层位于每一钯层上。芯片被贴附至承载面,且具有第一表面。第一表面上设有多个第二接垫。铜导线分别连接于第二接垫与相应的金属叠层之间,以电性连接芯片与基板的第一接垫。
申请公布号 CN102244062A 申请公布日期 2011.11.16
申请号 CN201110209931.9 申请日期 2011.07.26
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 陈光雄;王圣民;张勖帆
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 彭久云
主权项 一种半导体封装结构,包括:基板,具有承载面,且该承载面上设有至少一第一接垫;芯片,具有第一表面以及相对于该第一表面的第二表面,该芯片通过该第二表面贴附于该基板的该承载面,且该第一表面上设有至少一第二接垫;至少一金属叠层,设置于该第一接垫上,每一金属叠层包括镍层、钯层以及金层,其中该钯层位于该镍层与该金层之间,而该镍层位于该钯层与该第一接垫之间,且该镍层的厚度大于等于1.5微米,小于等于3微米;以及至少一铜导线,分别连接于该第二接垫与相应的该金属叠层之间,以电性连接该芯片与该基板的该第一接垫。
地址 中国台湾高雄市