发明名称 用于测量植物的叶盘生长的方法以及对此适合的装置
摘要 本发明涉及用于测量叶盘的生长的方法及装置。该方法的特征在于以下步骤:a)拍摄系统的校准;b)叶盘的至少两个图像的图像拍摄;c)图像数据的处理,其包括i)通过阈值分割来分割叶盘,ii)多倍的形态学的侵蚀步骤,iii)边缘清理以移除存储容器的边缘;d)3D重建:借助于立体算法建立差异图,根据先前所确定的校准参数从差异图计算3D表面模型;e)平滑先前所获得的表面模型;f)从面积的时间序列求得生长率。该装置包括至少一个摄像机、照明单元、用于摄像机及(红外线)照明的在X-/Y-平面中的移动平台、用于叶盘的存储容器以及电子的评估及控制单元。
申请公布号 CN102246205A 申请公布日期 2011.11.16
申请号 CN200980148970.3 申请日期 2009.11.11
申请人 于利奇研究中心有限公司 发明人 B·比斯库普;A·菲施巴赫;H·沙尔
分类号 G06T7/00(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 严志军;杨国治
主权项 一种用于测量叶盘的生长的方法,其特征在于以下步骤:a)校准拍摄系统;b)进行叶盘的至少两个图像的图像拍摄;c)图像数据的处理,其包括i)通过阈值分割来分割所述叶盘,ii)形态学的侵蚀步骤,iii)边缘清理以移除存储容器的边缘;d)3D重建:借助于立体算法建立差异图D,根据先前所确定的校准参数从所述差异图计算3D表面模型;e)平滑先前所获得的所述表面模型;f)从面积的时间序列求得生长率。
地址 德国于利奇