发明名称 |
用于测量植物的叶盘生长的方法以及对此适合的装置 |
摘要 |
本发明涉及用于测量叶盘的生长的方法及装置。该方法的特征在于以下步骤:a)拍摄系统的校准;b)叶盘的至少两个图像的图像拍摄;c)图像数据的处理,其包括i)通过阈值分割来分割叶盘,ii)多倍的形态学的侵蚀步骤,iii)边缘清理以移除存储容器的边缘;d)3D重建:借助于立体算法建立差异图,根据先前所确定的校准参数从差异图计算3D表面模型;e)平滑先前所获得的表面模型;f)从面积的时间序列求得生长率。该装置包括至少一个摄像机、照明单元、用于摄像机及(红外线)照明的在X-/Y-平面中的移动平台、用于叶盘的存储容器以及电子的评估及控制单元。 |
申请公布号 |
CN102246205A |
申请公布日期 |
2011.11.16 |
申请号 |
CN200980148970.3 |
申请日期 |
2009.11.11 |
申请人 |
于利奇研究中心有限公司 |
发明人 |
B·比斯库普;A·菲施巴赫;H·沙尔 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
严志军;杨国治 |
主权项 |
一种用于测量叶盘的生长的方法,其特征在于以下步骤:a)校准拍摄系统;b)进行叶盘的至少两个图像的图像拍摄;c)图像数据的处理,其包括i)通过阈值分割来分割所述叶盘,ii)形态学的侵蚀步骤,iii)边缘清理以移除存储容器的边缘;d)3D重建:借助于立体算法建立差异图D,根据先前所确定的校准参数从所述差异图计算3D表面模型;e)平滑先前所获得的所述表面模型;f)从面积的时间序列求得生长率。 |
地址 |
德国于利奇 |