GIP面板的测试结构

摘要

本实用新型公开一种GIP面板的测试结构，包含有：一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。本实用新型经由在面板上设计一些串接衬垫与在探针治具上设计一控制线路，可减少测试面板所需要的测试设备，进而降低测试成本。

主权项

一种GIP面板的测试结构，其特征在于，包含有：一显示器面板，在该显示器面板的第一片基板上有一第一栅极驱动电路、一第二栅极驱动电路、复数条栅极线、与复数条源极线；一复数个串接衬垫，被制作于该第一片基板上，该复数个串接衬垫均电性连接至该第一栅极驱动电路；在测试该显示器面板时，该些串接衬垫会经由一测试系统电性连接至该第二栅极驱动电路，使一测试信号可依序由该第一栅极驱动电路，经过该些串接衬垫与该测试系统，而传送到该第二栅极驱动电路。