发明名称 实施一时脉控制结构之装置的扫瞄式测试
摘要
申请公布号 TWI352205 申请公布日期 2011.11.11
申请号 TW096121219 申请日期 2007.06.12
申请人 矽像公司 美國 发明人 宋晶颂
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 江国庆 台北市光复北路11巷46号11楼
主权项 一种使用测试时脉控制结构之多组电路之扫瞄式测试之方法,该方法包含:以一测试时脉控制结构之第一可编程测试时脉控制器执行一区内测试,以运作复数个电路区间之一第一子集,包含将一第一动态错误侦测测试图形传入一第一扫瞄链部分,其中传入该第一扫瞄链系依据一控制链中控制讯息之相对部分;及以一测试时脉控制结构之第二可编程测式时脉控制器执行一区间测试,以运作复数个电路区间之一第二子集,包含将第二动态错误侦测测试图形传入一第二扫瞄链部分,其并列于一第一动态错误侦测测试图形传入一第一扫瞄链部分,其中传入该第二扫瞄链系依据一控制链中控制讯息之相对部分;其中该第一及第二动态错误侦测测试图形包含一上次偏移启动测试图形与宽面测试图形,以及其中该第一及第二可编程时脉控制器各传入该控制链中控制讯息之相对部分。
地址 美国