发明名称 在电浆处理系统中,使基板蚀刻最佳化之方法
摘要
申请公布号 TWI352388 申请公布日期 2011.11.11
申请号 TW094107343 申请日期 2005.03.10
申请人 泛林股份有限公司 美國 发明人 金智深;拜内特 沃斯罕;严必明;彼得 罗威哈特
分类号 H01L21/3065;H01L21/308;H01L21/31;H01L21/461 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种在电浆处理系统中蚀刻基板之方法,该基板具有半导体层、配置于该半导体层上之第一阻隔层、配置于该第一阻隔层上之低k层、配置于该低k层上之第三硬遮罩层;配置于该第三硬遮罩层上之第二硬遮罩层,以及配置于该第二硬遮罩层上之第一硬遮罩层,该方法包括:以第一蚀刻剂与第二蚀刻剂交替地蚀刻该基板,其中该第一蚀刻剂对于第一硬遮罩层之第一硬遮罩材料、第三硬遮罩层之第三硬遮罩材料以及第一阻隔层之第一阻隔层材料具有低度选择性,但对于该第二硬遮罩层之第二硬遮罩材料具有高度选择性,其中该第二蚀刻剂对于该第一硬遮罩层之第一硬遮罩材料、该第三硬遮罩层之第三硬遮罩材料以及该第一阻隔层之第一阻隔层材料具有高度选择性,且该第二蚀刻剂对于该第二硬遮罩层之第二硬遮罩材料具有低度选择性,以及其中该交替地蚀刻系包括以该第二蚀刻剂部分地蚀穿该低k层和该第一阻隔层。
地址 美国