| 发明名称 | 一种测试功能覆盖的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测试功能覆盖的方法，用于实现较完整的功能覆盖测试，提高功能覆盖测试的准确性。所述方法包括：通过测试向量对测试点进行测试，并存储被覆盖的测试点的测试标志码；将存储的所有需参与测试的测试点的测试标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。本发明还公开了用于实现所述方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN102236729A | 申请公布日期 | 2011.11.09 |
| 申请号 | CN201010163001.X | 申请日期 | 2010.04.29 |
| 申请人 | 无锡中星微电子有限公司 | 发明人 | 李树杰 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 黄志华 |
| 主权项 | 一种测试功能覆盖的方法，其特征在于，包括以下步骤：通过测试向量对测试点进行测试，并存储被覆盖的测试点的测试标志码；将存储的所有需参与测试的测试点的测试标志码与被覆盖的测试点的测试标志码进行匹配；如果需参与测试的测试点的测试标志码均与被覆盖的测试点的测试标志码至少匹配成功一次，则确定功能覆盖完全；如果有未被匹配的需参与测试的测试点的测试标志码，则确定有未被覆盖的测试点。 | ||
| 地址 | 214028 江苏省无锡市新区长江路21-1号国家集成电路设计园（创源大厦）610 | ||