发明名称 鳍式场效应晶体管的掺杂方法
摘要 本发明的实施例包括鳍式场效应晶体管(fin??field-effect??transistors,FinFET)的掺杂方法。在该方法中,形成一包含掺质的富掺质层(dopant-richlayer)在基板的半导体鳍板(semiconductor??fin)的顶表面及侧壁上。形成盖层以覆盖富掺质层。对基板进行回火以将掺质由富掺质层趋入半导体鳍板中。本发明的多种实施例可改善传统LDD工艺的缺点。例如,在不同实施例中形成富掺质层、形成盖层以及将杂质趋入LDD区以达所需厚度却不用顾虑阴影效应及PAI孪晶界缺陷的回火工艺。因此,可改善装置的电性。
申请公布号 CN102237278A 申请公布日期 2011.11.09
申请号 CN201010263807.6 申请日期 2010.08.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 蔡俊雄;黄玉莲;余德伟
分类号 H01L21/336(2006.01)I;H01L21/225(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 姜燕;陈晨
主权项 一种掺杂鳍式场效应晶体管的方法,包括:提供一基板,该基板包括一半导体鳍板形成于该基板的一表面上,其中该半导体鳍板具有一顶表面及侧壁;沉积一包括掺质的富掺质层于该半导体鳍板的该顶表面及侧壁上;沉积一盖层在该富掺质层上;以及该基板回火以将该掺质由该富掺质层趋入该半导体鳍板中。
地址 中国台湾新竹市