发明名称 |
形成半导体结构的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种形成半导体结构的方法,包括:提供一基底;形成一缓冲/成核层于该基底上;形成一第III族氮化物层于该缓冲/成核层上;以及使该第III族氮化物层受到氮化。形成该第III族氮化物层的步骤包括金属有机气相化学沉积。本发明可使用湿蚀刻来图案化第三族氮化物层,并有效地减少于第III族氮化物层中的氮空缺,从而改善掺杂物的激活率,并增加这些层别中的载流子浓度。 |
申请公布号 |
CN101635255B |
申请公布日期 |
2011.11.09 |
申请号 |
CN200910128705.0 |
申请日期 |
2009.03.13 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
余振华;余佳霖;陈鼎元;邱文智 |
分类号 |
H01L21/205(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I;C23C16/34(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
姜燕;陈晨 |
主权项 |
一种形成半导体结构的方法,该方法包括:提供一基底;形成一缓冲/成核层于该基底上,其中该缓冲/成核层包括一第III族氮化物材料;在形成该缓冲/成核层的步骤后,执行一第一氮化步骤于该缓冲/成核层上;形成一第一第III族氮化物层于该缓冲/成核层上,其中该第一第III族氮化物层与该缓冲/成核层接触且该第一第III族氮化物层为p型且该第一第III族氮化物层不执行氮化;形成一第二第III族氮化物层于该第一第III族氮化物层上,其中该第二第III族氮化物层为n型;以及在形成该第二第III族氮化物层的步骤后,执行一第二氮化步骤于该第二第III族氮化物层上。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |