发明名称 | 改善存储装置的可靠性、可用性及可维修性 | ||
摘要 | 本发明的实施例一般涉及提高存储装置的可靠性、可用性及可维修性。在一些实施例中,存储装置包含具有存储数据位的第一部分和存储对应于数据位的纠错码(ECC)位的第二部分的存储核心。存储装置还可在与存储核心在同一芯片上包含纠错逻辑部件。在一些实施例中,纠错逻辑部件使存储装置能够计算ECC位并将所存储的ECC位与所计算的ECC位进行比较。 | ||
申请公布号 | CN101097784B | 申请公布日期 | 2011.11.09 |
申请号 | CN200710129013.9 | 申请日期 | 2007.06.29 |
申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | K·S·贝恩斯 |
分类号 | G11C29/42(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/42(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 曾祥夌;王忠忠 |
主权项 | 一种能够在错误检验模式和非错误检验模式中操作的存储装置,包括:存储核心,它具有:在错误检验模式中,存储数据位的第一部分和存储对应于所述数据位的纠错码ECC位的第二部分,在非错误检验模式中,存储数据位的所述第一部分和所述第二部分;以及纠错逻辑部件,它与所述存储核心在同一芯片上,所述纠错逻辑部件包含纠错码ECC计算逻辑部件来在所述存储装置处于错误检验模式中时计算与所述存储核心的第一部分的所述数据位对应的纠错码ECC位,其中:所述存储核心包含具有对应于第一部分的第一存储体和对应于第二部分的第二存储体的分离的存储体对。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |