发明名称 |
直通基底穿孔结构及其制造方法 |
摘要 |
一种直通基底穿孔结构及其制造方法,该制造方法包含:提供半导体基底;蚀刻第一通孔于半导体基底中;形成间隙壁于第一通孔的侧壁;经由第一通孔蚀刻半导体基底,以形成第二通孔;湿蚀刻第二通孔,以形成瓶状通孔;形成绝缘层,在瓶状通孔底部的内壁;沉积第一导电层于瓶状通孔中,其中第一导电层定义瓶状通孔底部的腔体;形成连接垫于半导体基底的正侧,其中连接垫与第一导电层电连接;研磨半导体基底的背侧以暴露出腔体;以及填入第二导电层于腔体中。 |
申请公布号 |
CN102237300A |
申请公布日期 |
2011.11.09 |
申请号 |
CN201010224184.1 |
申请日期 |
2010.07.06 |
申请人 |
南亚科技股份有限公司 |
发明人 |
林瑄智;任兴华 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
北京市浩天知识产权代理事务所 11276 |
代理人 |
刘云贵 |
主权项 |
一种直通基底穿孔结构的制造方法,其特征在于,包含:提供基底,该基底具有正侧及背侧,在该正侧上设有层间介电层;在该层间介电层及该基底中,蚀刻第一通孔;在该第一通孔的侧壁,形成间隙壁;经由该第一通孔蚀刻该基底,以形成第二通孔;拓宽该第二通孔,以形成瓶状通孔;在该瓶状通孔底部的内壁,形成绝缘层;沉积第一导电层于该瓶状通孔中,其中该第一导电层定义该瓶状通孔底部的腔体;形成连接垫于该基底的正侧,其中该连接垫与该第一导电层电性连接;研磨该基底的背侧以暴露出该腔体;以及由该基底的该背侧填入第二导电层于该腔体中。 |
地址 |
中国台湾桃园县 |