发明名称 直通基底穿孔结构及其制造方法
摘要 一种直通基底穿孔结构及其制造方法,该制造方法包含:提供半导体基底;蚀刻第一通孔于半导体基底中;形成间隙壁于第一通孔的侧壁;经由第一通孔蚀刻半导体基底,以形成第二通孔;湿蚀刻第二通孔,以形成瓶状通孔;形成绝缘层,在瓶状通孔底部的内壁;沉积第一导电层于瓶状通孔中,其中第一导电层定义瓶状通孔底部的腔体;形成连接垫于半导体基底的正侧,其中连接垫与第一导电层电连接;研磨半导体基底的背侧以暴露出腔体;以及填入第二导电层于腔体中。
申请公布号 CN102237300A 申请公布日期 2011.11.09
申请号 CN201010224184.1 申请日期 2010.07.06
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 林瑄智;任兴华
分类号 H01L21/768(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/522(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 代理人 刘云贵
主权项 一种直通基底穿孔结构的制造方法,其特征在于,包含:提供基底,该基底具有正侧及背侧,在该正侧上设有层间介电层;在该层间介电层及该基底中,蚀刻第一通孔;在该第一通孔的侧壁,形成间隙壁;经由该第一通孔蚀刻该基底,以形成第二通孔;拓宽该第二通孔,以形成瓶状通孔;在该瓶状通孔底部的内壁,形成绝缘层;沉积第一导电层于该瓶状通孔中,其中该第一导电层定义该瓶状通孔底部的腔体;形成连接垫于该基底的正侧,其中该连接垫与该第一导电层电性连接;研磨该基底的背侧以暴露出该腔体;以及由该基底的该背侧填入第二导电层于该腔体中。
地址 中国台湾桃园县