发明名称 集成电路晶圆切割方法
摘要 本发明提供一种集成电路晶圆切割方法,包含以下步骤:于晶圆基板形成复数个集成电路;于集成电路上方形成图案化保护层;以及使用图案化保护层做为遮罩,蚀刻穿晶圆基板,以形成复数个集成电路晶粒。其中,图案化保护层较佳是光阻。图案化保护层的形成步骤包含:形成光阻层以覆盖晶圆基板;使用光罩,对光阻层进行曝光;以及对光阻层进行显影,以形成图案化保护层。蚀刻步骤包含使用干式或湿式蚀刻工艺。
申请公布号 CN102237307A 申请公布日期 2011.11.09
申请号 CN201010167230.9 申请日期 2010.04.27
申请人 瑞鼎科技股份有限公司 发明人 黃耀生
分类号 H01L21/78(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I 主分类号 H01L21/78(2006.01)I
代理机构 中国商标专利事务所有限公司 11234 代理人 万学堂;周伟明
主权项 一种集成电路晶圆切割方法,包含以下步骤:于一晶圆基板形成复数个集成电路;于该些集成电路上方形成一图案化保护层;以及使用该图案化保护层做为遮罩,蚀刻穿该晶圆基板,以形成复数个集成电路晶粒。
地址 中国台湾新竹市科学工业园区力行路23号2楼