发明名称 |
光学拾取器和使用该光学拾取器的光盘设备 |
摘要 |
本发明涉及光学拾取器和使用该光学拾取器的光盘设备。该光学拾取器包括:光源,其发射光束;物镜,其将从光源发射的光束汇聚到光盘上;至少一个发散角转换透镜,其布置在光源与物镜之间,并使入射光束的发散角发生变化;驱动单元,其被配置为在光轴方向上驱动发散角转换透镜;光学检测装置,其对在光盘处反射的返回光束进行检测;以及环境变化检测单元,其被配置为检测环境温度变化,其中,物镜由折射器件制成,折射器件在其一个表面上具有呈阶梯形状或锯齿剖面形状的衍射结构,衍射结构产生衍射光,该衍射光提供适于执行令人满意的记录及/或再现的光点,物镜满足与环境温度变化对应的波前像差量、环境温度变化量、以及焦距之间的特定关系。 |
申请公布号 |
CN101620865B |
申请公布日期 |
2011.11.09 |
申请号 |
CN200910151395.4 |
申请日期 |
2009.07.06 |
申请人 |
索尼株式会社 |
发明人 |
金田一贤 |
分类号 |
G11B7/12(2006.01)I;G11B7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
宋鹤;南霆 |
主权项 |
一种光学拾取器,包括:光源,其发射光束;物镜,其将从所述光源发射的所述光束汇聚到光盘上;至少一个发散角转换透镜,其布置在所述光源与所述物镜之间,并改变入射光束的发散角;驱动装置,其用于在光轴方向上驱动所述发散角转换透镜;光学检测装置,其对在所述光盘处反射的返回光束进行检测;以及环境变化检测单元,其被配置为检测环境温度变化,其中,所述物镜由折射器件制成,所述折射器件在其一个表面上具有呈阶梯形状或锯齿剖面形状的衍射结构,所述衍射结构产生衍射光,所述衍射光提供适于执行记录及/或再现的光点,当使用一阶光时,所述物镜满足2.5×10‑3≤ΔWFA/(ΔT×f)≤2.6×10‑3的关系,当使用二阶光时,所述物镜满足1.8×10‑3≤ΔWFA/(ΔT×f)≤2.6×10‑3的关系,当使用三阶光时,所述物镜满足1.1×10‑3≤ΔWFA/(ΔT×f)≤2.6×10‑3的关系,当使用四阶光时,所述物镜满足0.7×10‑3≤ΔWFA/(ΔT×f)≤2.6×10‑3的关系,当使用五阶光时,所述物镜满足0.2×10‑3≤ΔWFA/(ΔT×f)≤2.6×10‑3的关系,其中,ΔWFA表示所述物镜的与环境温度变化相对应的波前像差的量,ΔT表示环境温度变化的量,而f表示所述物镜的焦距,并且其中,所述发散角转换透镜根据所述环境变化检测单元的检测结果而被步进驱动。 |
地址 |
日本东京都 |