| 摘要 |
<p>보안에 손상을 끼치지 않고 스캔시험을 가능하게 하는 LSI가 제공된다. 스캔 체인(scan chain)을 구성하는 플립플롭은, 정상동작과 스캔 시험간의 스위칭을 위한 모드(mode)신호의 단부(edge)에 의해 스캔 시험이 개시 또는 종료될 때, 리세트(reset)된다. 또한, 스캔 시험동안에는, 내부 메모리 수단에 액세스하는 것이 불가능하다. 더욱이, 스캔 시험동안에만 동작하는 더미(dummy) 플립플롭은 스캔 체인에 접속되며, 정상동작 동안에 스캔 체인에 의한 밖으로의 이동(shifting out)은 불가능하게 된다.</p> |
