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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fluoreszenzlebensdauermessung. Hierbei wird eine periodisch in einer ersten Frequenz modulierte Anregungslichtstrahlung (12a) auf ein fluoreszierendes Material (20) gerichtet. Zur Messung der Fluoreszenzlebensdauer wird die Phasendifferenz zwischen der Anregungslichtstrahlung (12a) und der Fluoreszenzstrahlung (20a), die durch einen Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) erfasst wird, gemessen. Erfindungsgemäß wird ein periodisch in einer zweiten Frequenz moduliertes Korrektursignal (16a) einer Messschaltung (19) zugeführt und eine durch die Messschaltung verursachte Phasendrift zwischen dem ausgesendeten Korrektursignal (16a) und dem durch die Messschaltung verarbeiteten Korrektursignal (16a) gemessen. Diese Phasendrift wird mit der Phasendifferenz zwischen der Anregungslichtstrahlung (12a) und der Fluoreszenzstrahlung (20a), die über den Fluoreszenzstrahlungsdetektor (18) gemessen wird, verrechnet, wodurch der durch die Phasendrift der Messschaltung erzeugte Messfehler kompensiert wird. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Fluoreszenzlebensdauermessung.
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