发明名称 |
Einebnung eines Materialsystems in einem Halbleiterbauelement unter Anwendung eines nicht-selektiven in-situ zubereiteten Schleifmittels |
摘要 |
Für komplexe CMP-Prozesse, in denen das Abtragen unterschiedlicher dielektrischer Materialien erforderlich ist, möglicherweise in Anwesenheit eines Polysiliziummaterials, wird ein Schleifmittelmaterial am Punkt der Verwendung angepasst, indem ein geeigneter pH-Wert ausgewählt wird und indem eine Agglomeration der abreibenden Teilchen vermieden wird. Die in-situ-Präparation des Schleifmittelmaterials ermöglicht ferner eine sehr dynamische Anpassung der Abtragungsbedingungen, wenn beispielsweise das Polysiliziummaterial von Gateelektrodenstrukturen in Austauschgateverfahren freigelegt wird.
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申请公布号 |
DE102010028461(A1) |
申请公布日期 |
2011.11.03 |
申请号 |
DE201010028461 |
申请日期 |
2010.04.30 |
申请人 |
GLOBALFOUNDRIES DRESDEN MODULE ONE LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG;GLOBALFOUNDRIES INC. |
发明人 |
GROSCHOPF, JOHANNES;HUESELITZ, RICO;KITSCHE, MARCO;STEFFEN, KATJA |
分类号 |
H01L21/304;H01L21/3105;H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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