| 发明名称 | 具有失调电阻的测量装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种用于测量物理值的测量装置，具有惠斯登电桥，该电桥内至少一个电桥电阻包括至少一个对变形敏感的欧姆测量电阻，其与变形相应产生可以电计值的信号。此外，该测量装置还具有失调电阻，可与惠斯登电桥内的至少一个电阻有选择地间接或者直接并联。该电桥还具有对变形不敏感的电阻，其与电桥电阻内对变形敏感的测量电阻串联。失调电阻通过开关与惠斯登电桥连接，从而可以接通和断开电桥的失调。 | ||
| 申请公布号 | CN202024769U | 申请公布日期 | 2011.11.02 |
| 申请号 | CN200990100107.6 | 申请日期 | 2009.09.30 |
| 申请人 | 泰科思有限责任公司 | 发明人 | 奥利弗·约斯特;马科·阿佩尔;约希姆·霍斯·范·沃尔夫拉姆斯多尔夫 |
| 分类号 | G01D5/12(2006.01)I;G01B7/16(2006.01)I | 主分类号 | G01D5/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 郑小粤;贾满意 |
| 主权项 | 用于测量物理值的测量装置，具有至少一个惠斯登电桥，该电桥内至少一个电桥电阻包括至少一个对变形敏感的欧姆测量电阻(A、B、C、D)，其与变形相应产生可以电计值的信号，与所述惠斯登电桥连接的计值单元，和失调电阻(K)，其特征在于，所述的测量装置还具有对变形不敏感的电阻(E、F)，其与电桥电阻内对变形敏感的测量电阻(A、B、C、D)串联；所述失调电阻(K)与所述惠斯登电桥内的至少一个电阻(A、B、C、D、E、F)有选择地间接或者直接并联。 | ||
| 地址 | 德国奥芬巴赫 | ||