发明名称 集成电路测试用探针
摘要 外观设计产品的名称:集成电路测试用探针。外观设计产品的用途:集成电路的测试装置。外观设计的设计要点:在于主视图左侧的爪头。最能表明设计要点的图片:主视图。俯视图、仰视图与主视图相同,后视图与主视图对称,故省略。
申请公布号 CN301714105S 申请公布日期 2011.11.02
申请号 CN201130066646.7 申请日期 2011.04.02
申请人 上海韬盛电子科技有限公司 发明人 田治峰;高凯;殷岚勇;王强;周明;闫立民;贺涛
分类号 10-04 主分类号 10-04
代理机构 代理人
主权项
地址 201203 上海市张江高科技园区郭守敬路498号20号楼214室