发明名称 | 集成电路测试用探针 | ||
摘要 | 外观设计产品的名称:集成电路测试用探针。外观设计产品的用途:集成电路的测试装置。外观设计的设计要点:在于主视图左侧的爪头。最能表明设计要点的图片:主视图。俯视图、仰视图与主视图相同,后视图与主视图对称,故省略。 | ||
申请公布号 | CN301714105S | 申请公布日期 | 2011.11.02 |
申请号 | CN201130066646.7 | 申请日期 | 2011.04.02 |
申请人 | 上海韬盛电子科技有限公司 | 发明人 | 田治峰;高凯;殷岚勇;王强;周明;闫立民;贺涛 |
分类号 | 10-04 | 主分类号 | 10-04 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 201203 上海市张江高科技园区郭守敬路498号20号楼214室 |