A TEST METHOD ON THE SUPPORT SUBSTRATE OF A SUBSTRATE OF THE SEMICONDUCTOR ON INSULATOR TYPE,申请号EP20100700411-传众专利搜索

发明名称	A TEST METHOD ON THE SUPPORT SUBSTRATE OF A SUBSTRATE OF THE SEMICONDUCTOR ON INSULATOR TYPE
摘要
申请公布号	EP2382655(A1)	申请公布日期	2011.11.02
申请号	EP20100700411	申请日期	2010.01.14
申请人	S.O.I.TEC SILICON ON INSULATOR TECHNOLOGIES	发明人	LAGAHE BLANCHARD, CHRYSTELLE
分类号	H01L21/66	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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