发明名称 |
利用辅助运放测试运放类IC参数的电路 |
摘要 |
本实用新型涉及利用辅助运放测试运放类IC参数的电路,其特征在于:电阻R1一端接交流电源VI1,另一端串联电阻R11和电阻R3,R11另一端接待测运放A1的反相端,电阻R2一端接交流电源VI1,另一端串联电阻R10和电阻R4,R11另一端接待测运放A1的同相端,电源VI1另一端接地,R4另一端接地,R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端,开关S4另一端接辅助运放的输出端,A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端,开关S4另一接A2的反向输入端,A1输出接开关S3的一端,S3另一端串联电阻RL后接地,辅助运放A2的同相端接交流电源VI2,VI2另一端接地,开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端,电阻R3两端并联补偿电容C2。本实用新型电路结构简单、使用方便、易于实现,能够方便地测量运算放大器参数。 |
申请公布号 |
CN202025069U |
申请公布日期 |
2011.11.02 |
申请号 |
CN201120009030.0 |
申请日期 |
2011.01.13 |
申请人 |
博嘉圣(福州)微电子科技有限公司 |
发明人 |
林康生;陈品霞 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
福州元创专利商标代理有限公司 35100 |
代理人 |
蔡学俊 |
主权项 |
利用辅助运放测试运放类IC参数的电路,包括待测集成运放A1、辅助放大器A2、开关S1、S2、S3、S4、交流电源VI1、VI2、电阻R1、R2、R3、R4、R10、R11、RL、电容C2,其特征在于:电阻R1一端接交流电源VI1,另一端串联电阻R11和电阻R3,R11另一端接待测运放A1的反相端,电阻R2一端接交流电源VI1,另一端串联电阻R10和电阻R4,R11另一端接待测运放A1的同相端,电源VI1另一端接地,R4另一端接地,R3另一端接双路开关S4的一条支路的一端,开关S4另一端接辅助运放的输出端,A1输出端接双路开关S4的另一支路的一端,开关S4另一接A2的反向输入端,A1输出接开关S3的一端,S3另一端串联电阻RL后接地,辅助运放A2的同相端接交流电源VI2,VI2另一端接地,开关S1、S2分别并联在电阻R11、R10两端,电阻R3两端并联补偿电容C2。 |
地址 |
350007 福建省福州市台江区长汀路3号1号楼306室 |