发明名称 使用在固定角位置的源和检测器的原位X射线衍射系统
摘要 一种X射线衍射技术,用于在原位状态测量材料样品的已知特性。该技术包括使用一种用以发射大体上发散的X射线辐射的X射线源,其具有相对于固定源设置的准直光学元件,以通过接收该发散X射线辐射和改向该发散X射线辐射的发散路径,产生大体上平行的X射线辐射束。第一X射线检测器收集自该样品衍射的辐射;其中根据有关该样品的已知特性的先验知识,该源和检测器在其运行期间彼此相对地、且在该样品的至少一个尺度中被固定。根据有关该样品已知特性的先验知识,特别是在本发明的相监测实施例中,可相对于该第一X射线检测器固定第二X射线检测器。
申请公布号 CN1864062B 申请公布日期 2011.11.02
申请号 CN200480028984.9 申请日期 2004.08.04
申请人 X射线光学系统公司 发明人 戴维·M·吉布森;沃尔特·M·吉布森;黄华鹏
分类号 G01N23/20(2006.01)I;G01N23/207(2006.01)I 主分类号 G01N23/20(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 夏青
主权项 一种X射线衍射装置,用于在原位状态测量材料的样品的已知特性,包括:固定的X射线源,用于发射大体上发散的X射线辐射;准直光学元件,相对于该固定源设置,用于通过接收该发散X射线辐射并使该发散X射线辐射的发散路径改为朝向该样品,以产生大体上平行的X射线辐射束,该准直光学元件为多毛细管光学元件——一束细的中空管,其在相当大的立体角上收集发散X射线的一部分、发射光子,并因此使光子改向,从其另外的直线轨迹通过全外反射到沟槽内,并将收集到的发散X射线准直成射向样品的平行射束;第一和第二点X射线检测器,用于收集从该样品衍射的辐射;以及至少一个角滤光器,该角滤光器具有利用全外反射的多个、平行的毛细管,该角滤光器被固定在该第一和/或第二X射线检测器上,用于限制由相应的检测器收集该衍射的辐射的角度;其中,该第一X射线检测器被固定在适当位置,以便测量根据关于该样品的已知特性的先验知识确定的衍射峰;其中,该第二X射线检测器根据有关该样品的已知特性的所述先验知识、相对于该第一X射线检测器固定在适当位置,从而测量离开根据该先验知识确定的衍射峰的信号;其中,根据有关该样品的该已知特性的先验知识,所述源和检测器在其操作期间彼此相对地、且在相对于该样品的至少一个尺度中被固定在适当位置。
地址 美国纽约