发明名称 |
具有多种快闪记忆单元的USB快闪卡之大量生产测试方法 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI351599 |
申请公布日期 |
2011.11.01 |
申请号 |
TW097108510 |
申请日期 |
2008.03.11 |
申请人 |
大智電子科技有限公司 臺北市內湖區新湖二路345號3樓 |
发明人 |
周圭璋;马治刚;李威若;沈明祥 |
分类号 |
G06F11/26;G06F11/00 |
主分类号 |
G06F11/26 |
代理机构 |
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代理人 |
林火泉 台北市大安区忠孝东路4段311号12楼之1 |
主权项 |
一种格式化/测试通用序列汇流排(USB)装置的方法,其系利用一含有计算系统的测试主机,该方法系包括:耦接复数USB装置至该测试主机,每一该USB装置包括一快闪控制器与一个或多个快闪记忆体装置,其中每一该USB装置包括一扩充的USB连接器插头耦接一印刷电路版装置或耦接一板上晶片(chip on board,COB),其具有一个或多个快闪记忆体装置与快闪控制器,其中该扩充USB连接器插头包括:一扩充接脚基板,具有一扩充长度,其大于或等于标准USB连接器插头的接脚基板之标准长度;复数插头的标准金属接触接脚,位在该接脚基板上,该扩充USB连接器插头的标准接脚基板系插入标准USB插槽之一凹槽内,标准金属接触接脚与该等插头标准金属接触接脚实质电性接触;及复数插头扩充金属接触接脚位在该扩充接脚基板上,该扩充USB连接器插头的该扩充接脚基板插入扩充USB插槽之一凹槽内,使位在该扩充接脚基板上的该插头扩充金属接触接脚与位在该扩充USB插槽上的插槽扩充金属接触接脚实质电性接触;从每一该USB装置读取至少一控制器端点描述符值,核对每一该USB装置的该控制器端点描述符值是与储存在该测试主机的描述符值相配;及对具有一有效端点描述符值的每一该USB装置格式化/测试,藉由以管线方式将预定资料写入至快闪记忆体装置内,之后从该快闪记忆体装置内读取该预定资料,将受读取的该预定资料与存在该测试主机的已知良好资料值比较。 |
地址 |
台北市内湖区新湖二路345号3楼 |